在汽車制造領(lǐng)域,檢具作為驗(yàn)證零部件尺寸與形位公差的“標(biāo)尺”,其自身的精度直接決定了整車的裝配質(zhì)量與安全性能。檢具上的定位銷、檢測(cè)銷等關(guān)鍵部位,承擔(dān)著基準(zhǔn)建立與功能驗(yàn)證的核心任務(wù)。對(duì)這些特征的精密測(cè)量,涉及直徑的精確評(píng)定、銷孔間復(fù)雜距離與角度...
光路調(diào)整是確保國(guó)產(chǎn)激光干涉儀精度的關(guān)鍵步驟。如果光路未正確調(diào)整,可能會(huì)導(dǎo)致以下問題:干涉條紋不清晰或不穩(wěn)定:不良的光路對(duì)準(zhǔn)會(huì)影響干涉圖案的清晰度,進(jìn)而導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果誤差。信號(hào)衰減:光路的錯(cuò)誤調(diào)整可能導(dǎo)致激光強(qiáng)度降低,影響探測(cè)器的信號(hào)接收,降低...
在光學(xué)精密加工領(lǐng)域,微納結(jié)構(gòu)元件的三維形貌檢測(cè)是保障器件性能的重要環(huán)節(jié)。以微透鏡陣列、衍射光學(xué)元件為代表的精密光學(xué)元件,其特征尺寸已突破亞微米量級(jí),對(duì)表面輪廓精度與結(jié)構(gòu)面形誤差的檢測(cè)要求達(dá)到納米級(jí)分辨率。若加工過程中產(chǎn)生的邊緣塌陷、周期畸變...
測(cè)針輪廓儀廣泛應(yīng)用于表面輪廓測(cè)量,主要用于分析工件的表面特性,包括粗糙度、紋理、平整度、形狀誤差等。在進(jìn)行精準(zhǔn)的測(cè)量時(shí),探頭的選擇至關(guān)重要,因?yàn)椴煌愋偷奶筋^具有不同的測(cè)量能力和適應(yīng)性。不同類型的探頭適用于不同的測(cè)量場(chǎng)景。以下是常見的幾種探...
晶圓是半導(dǎo)體制造的核心基材,所有集成電路(IC)均構(gòu)建于晶圓之上,其質(zhì)量直接決定芯片性能、功耗和可靠性,是摩爾定律持續(xù)推進(jìn)的物質(zhì)基礎(chǔ)。其中晶圓的厚度(THK)、翹曲度(Warp)和彎曲度(Bow)是直接影響工藝穩(wěn)定性和芯片良率的關(guān)鍵參數(shù):1...
在微觀世界的探索之旅中,精準(zhǔn)測(cè)量材料如同在錯(cuò)綜復(fù)雜的迷宮中尋找出口,是現(xiàn)代制造業(yè)和科研領(lǐng)域的關(guān)鍵任務(wù)。臺(tái)階儀、光學(xué)輪廓儀和共聚焦顯微鏡,這些看似冰冷的儀器設(shè)備,實(shí)則是微觀世界的“度量衡”,憑借其技術(shù)與性能,為我們解鎖微觀世界的厚度奧秘。Na...
當(dāng)你用手機(jī)拍攝一朵花的微距照片時(shí),放大100倍已足夠驚艷。但如果告訴你,科學(xué)家手中的"相機(jī)"能將物體放大百萬倍,連病毒表面的蛋白突觸都清晰可見,你是否會(huì)好奇這背后的黑科技?這把打開微觀宇宙的鑰匙,正是掃描電子顯微鏡(SEM)。SEM的"超能...
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